Scanning electron and transmission electron microscopies in food analysis

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dc.contributor.authorAguilera, José Miguel
dc.contributor.authorBouchon Aguirre, Pedro Alejandro
dc.date.accessioned2021-07-21T13:11:52Z
dc.date.available2021-07-21T13:11:52Z
dc.date.issued2016
dc.fuente.origenBibliotecas UC
dc.identifier.doi10.1201/9781420045673.ch22
dc.identifier.isbn978-1420045673
dc.identifier.scopusid2-s2.0-85012951481
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.1201/9781420045673.ch22
dc.identifier.urihttps://repositorio.uc.cl/handle/11534/61086
dc.information.autorucEscuela de ingeniería ; Bouchon Aguirre, Pedro Alejandro ; S/I ; 71999
dc.language.isoen
dc.nota.accesoContenido parcial
dc.pagina.final511
dc.pagina.inicio495
dc.publisherCRC PRESS
dc.relation.ispartofHANDBOOK OF FOOD ANALYSIS INSTRUMENTS
dc.rightsacceso restringido
dc.titleScanning electron and transmission electron microscopies in food analysises_ES
dc.typecapítulo de libro
sipa.codpersvinculados99054
sipa.codpersvinculados71999
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