Automatic defect recognition in x-ray testing using computer vision

Simple item page
dc.catalogadorasg
dc.contributor.authorMery Quiroz, Domingo Arturo
dc.contributor.authorArteta, C.
dc.date.accessioned2024-03-04T15:33:31Z
dc.date.available2024-03-04T15:33:31Z
dc.date.issued2017
dc.fuente.origenORCID
dc.identifier.doi10.1109/WACV.2017.119
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.1109/WACV.2017.119
dc.identifier.urihttp://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-85020181039&partnerID=MN8TOARS
dc.identifier.urihttps://repositorio.uc.cl/handle/11534/82693
dc.identifier.wosidWOS:000404165800109
dc.information.autorucEscuela de Ingeniería; Mery Quiroz, Domingo Arturo; 0000-0003-4748-3882; 102382
dc.language.isoen
dc.nota.accesocontenido parcial
dc.rightsacceso restringido
dc.subject.ods03 Good health and well-being
dc.subject.odspa03 Salud y bienestar
dc.titleAutomatic defect recognition in x-ray testing using computer vision
dc.typecomunicación de congreso
sipa.codpersvinculados102382
sipa.trazabilidadORCID;2024-01-22
Files
Collections
Artículos de conferencia